元器件测试

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固纬LCR测试仪同惠LCR数字电桥电容测试仪图示仪圈数测试仪高频Q表

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	PV10数字高压表 PV10数字高压表	数字高压表PV10电压测量范围：500-10000V（AC/DC）
	CS149-20A数字高压表 CS149-20A数字高压表	数字高压表CS149-20A 19999,AC/DC:1000V～20000V
	CS149-30A数字高压表 CS149-30A数字高压表	数字高压表CS149-30A19999 ，AC/DC：1000V～30000V
	CS149-10数字高压表 CS149-10数字高压表	数字高压表CS149-1019999 ，AC/DC：500V～10000V
	CS149-30数字高压表数字高压表CS149-30	数字高压表CS149-3019999 ，DC：1000V～30000V
	DF4822半导体管特性图示仪 DF4822半导体管特性图示仪	半导体管特性图示仪DF4822 最高集电极扫描电压可达500V，最大电流可达2A
	YB4811晶体管特性图示仪 YB4811晶体管特性图示仪	YB4811晶体管特性图示仪0.2μA/级～50mA/级分17档 ,1μA/级～50mA/级
	YB4810A晶体管特性图示仪 YB4810A晶体管特性图示仪	晶体管特性图示仪YB4810A0.2μA/级～50mA/级分17档 ,1μA/级～50mA/级
	TH200线圈圈数测试仪 TH200线圈圈数测试仪	TH200线圈圈数测试仪■ 全新电路设计 ■ 采用CPLD与MPU双重控制 ■ 可测量线圈圈数最大80,000圈（TH201/TH201R） ■ 可测线圈内经最小至4.1mm ■ 电阻测试采用四端测量方式 ■ 较快的测量速度 ■ 操作简便、易学
	TH200R线圈圈数测试仪 TH200R线圈圈数测试仪	全新电路设计 ■ 采用CPLD与MPU双重控制 ■ 可测量线圈圈数最大80,000圈（TH201/TH201R） ■ 可测线圈内经最小至4.1mm ■ 电阻测试采用四端测量方式 ■ 较快的测量速度 ■ 操作简便、易学
	TH201型线圈圈数测试仪 TH201型线圈圈数测试仪	TH201 线圈圈数测试仪性能特点 ■ 全新电路设计 ■ 采用CPLD与MPU双重控制 ■ 可测量线圈圈数最大80,000圈（TH201/TH201R） ■ 可测线圈内经最小至4.1mm ■ 电阻测试采用四端测量方式 ■ 较快的测量速度 ■ 操作简便、易学
	TH201R线圈圈数测试仪 TH201R线圈圈数测试仪	TH201R型线圈圈数测试仪运用了该领域最新测量技术，性能稳定，质量可靠。该系列仪器能方便测试各种绕线线圈圈数及反映绕线铜阻的直流电阻值（电阻测量功能仅存在于TH200R/TH201R）。本仪器适用于电机、变压器、发电机绕组、继电器线圈等各种类型绕线线圈的测试。本仪器具有智能化、外观新颖、测试精度高、速度快、范围广、使用方便等特点，测量无需校准，无需更换量程，可极大提高测试效率。
	WY2851高频Q表高频Q表WY2851	高频Q表WY2851Q值测量范围：10 - 1000 ,频率：50kHz- 50MHz
	WY2853高频Q表高频Q表WY2853	高频Q表WY2853Q值测量范围：10 - 600 ,频率：2.5MHz- 100MHz
	LCR测试仪 LCR-821	．测试频率：12Hz ~ 200kHz, Continuously Variable Frequencies．0.1% 高量测准确度． 100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z/θ, L/R 测试模式．绝对值, 差异值(Δ), 差异百分比(Δ%)显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕．测试条件及测试结果同时显示在荧幕上．内建 RS-232C 介面 (含 LCR-Viewer 控制软体)
	高精密LCR测试仪 LCR-826	LCR-826高精密LCR测试仪特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 (LCR-826/827/829)测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
	高精密LCR测试仪 LCR-816	LCR-816高精密LCR测试仪特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 (LCR-826/827/829)测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
	LCR测试仪 LCR-827	LCR-827高精密LCR测试仪特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 (LCR-826/827/829)测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
	LCR测试仪 LCR-817	特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 (LCR-826/827/829)测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
	LCR测试仪 LCR-829	特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 (LCR-826/827/829)测试条件及测试结果同时显示在萤幕上